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QS30介电常数介质损耗测试仪

QS30介电常数介质损耗测试仪
QS30介电常数介质损耗测试仪

QS30介电常数介质损耗测试仪 电桥电容比Cx/Cs(当额定比率为1:1时)为0到1.111110,步级0.000001,倍率(K)变化范围为1000、500、200、100、50、20、10、5、2、1共十档,电容的测量范围取决于标准电容器Cs的大小电容值,即Cx=Cs·K·(Cx/Cs)
电容比率值的测量准确度:电容比率读数第一只盘为满度时

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产品介绍

高精密高压电容电桥QS30Ⅰ型简介

1.QS30介电常数介质损耗测试仪  简介

QS30Ⅰ型高压电桥为实验室用高精密高压电桥,可与各类高压标准电容器配合组成高压电容电桥,适宜于在高电压下测量电力电缆、高压套管、电力电容器、互感器等高压电力设备的电容量及损耗角正切值tgδ,以及各种固体或液体绝缘材料的介电常数(ε)及损失角正切值,也可测量高压变压器或电压互感器的比差和角差。电桥可外接电流互感器以扩大量程,测量大电容时本电桥为四端测量具有引线补偿装置,消除接线电阻引起的附加误差。本电桥还可测量电抗器的电感量及Q值。QS30Ⅰ-3型量程扩展器(供选购)能使主桥体的电容比从1000:1扩大到1061,当标准电容为1000pF时仪器大可测得1000uF。仪器内部的计算机能自动对测试数据进行处理,直接在面板上显示电容值及介损值tgδ和测试电压及流经标准电容的电流(Is),并可通过打印机将测试结果打印出来.

 

2. QS30介电常数介质损耗测试仪 主要技术指标

  • 电桥电容比Cx/Cs(当额定比率为1:1时)为0到1.111110,步级0.000001,倍率(K)变化范围为1000、500、200、100、50、20、10、5、2、1共十档,电容的测量范围取决于标准电容器Cs的大小电容值,即Cx=Cs·K·(Cx/Cs)
  • 电容比率值的测量准确度:电容比率读数第一只盘为满度时

 ±0.00005

  • 电桥tgδ范围为-0.111110到+0.111110,步级为0.000001。
  • tgδx测量准确度不大于±0.2% tgδ1×10-5
  • 被测电容量显示:Cx=(0.1~1111.1110)Cn
  • 被测电容介损显示:tgδ= -1.11×10-11.11×10-1  
  • 外形尺寸:560(宽)*410(深)*390(高)毫米。
  • 重量:约40公斤。

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