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LJD系列介电常数介质损耗测定仪

描述:LJD系列介电常数介质损耗测定仪自动介电常数测试时,基本步骤同手动一样,只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据,并自动计算出介电常数。
2.使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座

更新时间:2021-04-07
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LJD-C型全自动介电常数测定仪使用方法详解

一、自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)

1.自动介电常数测试时,基本步骤同手动一样,只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据,并自动计算出介电常数。

2.使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.(见下图)

3.按主机键盘区“2”按键1次,出现下图界面.

4.当S916测试夹具夹紧待测材料,调节主机的主调电容使主机谐振,此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留最终的D2数据,并显示下图界面

5.拿出被测材料,再次调节S916测试夹具的上下极片,直到主机再次谐振,最后再一次按下主机键盘区“2”按键,主机保存D4数据,并计算出介电常数的数值。显示下图界面,此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。

6.按主机键盘区“Q”按键退出测试,结束测试。

 

LJD系列介电常数介质损耗测定仪介质损耗测试方法与步骤

1.主机C0值的计算方式:

a)选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;

b)将调谐电容器调到200P左右,令这个电容是C4

c)按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q4(注:若频率搜索未能找到高Q值谐振点,可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点;

d)将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,上下极片夹紧材料后记住夹具显示值,然后拿出材料,调回到夹具的显示数值,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C3,Q值读数为Q3。(注:C3数值肯定比C4要小)LJD系列介电常数介质损耗测定仪

机构电容的有效电容为:Cz= C4-C3

2.分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL(参考电感的技术说明)的和

介质损耗系数/介质损耗正切值为

3.把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

4.在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

5.被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。

6.调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值,为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容,当Q为最大值时候可以稍等1分钟,等Q值稳定),然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键(请用绝缘材料来按,不要用手来按),在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入,记住厚度D2的值,此时显示数值为C2和Q2

7.取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值,为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容,当Q为最大值时候可以稍等1分钟,等Q值稳定))上。

注意:多次测试同一个材料时,要求保持每次材料厚度的读数一致。

8.第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn =.x x x x x ,即完成测试。

9.出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

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