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LST-331四探针方阻电阻率测试仪

LST-331四探针方阻电阻率测试仪
LST-331四探针方阻电阻率测试仪

LST-331四探针方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

产品型号:

产品介绍

LST-331普通四探针方阻电阻率测试仪

 

一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述:

采用范德堡测量原理能解决样品几何尺寸、边界效应探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准:

硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

.适用范围:

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

规格型model

LST-331

1.方块电阻范围

10^-52×10^5Ω/□

2.电阻率范围 

10^-62×10^6Ω-cm

测试电流范围

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

4.电流精度 

±0.1%

5.电阻精度

≤0.3%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.误差

4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻.

11.测试探头

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

12.标准电阻(选购)

规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

.型号及参数

 

 

五、标准配置外订购明细:

序号

型号

品名

单位

数量

备注

1

340-CSX

测试线

1


2

09A

标准电阻

1-5

选购规格和数量

3

06A

四探针测试平台

1

含探头1个

4

06B

四探针探头

1

方型或直线型选购

5

340-TTZ

镀金弹簧铜针4根

1

4根为一组

6

340-WTZ

弹簧钨针4根

1

4根为一组

7

340-RJ

分析软件

1


8

PC

电脑+打印机

1

依据客户要求配置

9

300-JL

检测技术服务

1

计量证书1份

10

WDCGQ

温度传感器

1

常温-125度


331-YB

延保服务  

1-3



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