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  • 多功能方阻电阻率测试仪
    多功能方阻电阻率测试仪

    多功能方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

    更新日期:2024-07-16型号:访问量:1950
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  • 工业方阻电阻率测试仪
    工业方阻电阻率测试仪

    工业方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

    更新日期:2024-07-16型号:访问量:1735
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  • 方阻电阻率测试仪
    方阻电阻率测试仪

    方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

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  • 四探针方阻电阻率测试仪
    四探针方阻电阻率测试仪

    四探针方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

    更新日期:2024-07-16型号:访问量:1540
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  • 四探针方阻仪 方阻电阻率测试仪
    四探针方阻仪 方阻电阻率测试仪

    四探针方阻仪 方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

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