四探针方阻仪 方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

LST-331四探针方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

绝缘材料表面体积电阻率测试仪LST-121超高测量范围，量程达到0-2×1018Ω，取代指针式高阻计的*佳仪表。 LST-122 绝缘材料体积电阻和表面电阻率测定仪高性能全功能超高阻、微电流综合测量仪表，除了覆盖LST-121的全部功能与用途外，

LST系列高绝缘电阻率测试仪 绝缘材料体积电阻和表面电阻率测定仪高性能全功能超高阻、微电流综合测量仪表，除了覆盖LST-121的全部功能与用途外，其他特点与用途见上述专题介绍。

电流测量范围为2×10-4 ～1×10-16Ａ。机内测试电压10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可调。体积具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便. 体积表面体积电阻率测试仪适用于橡胶、塑料、薄膜、地毯、织物及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。

绝缘电阻率测定仪符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。

体积电阻率测试仪仪器使用前请仔细阅读以下内容，否则将造成仪器损坏或电击情况。 1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。 2.接通电源调零，（注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接）在“Rx”两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。

绝缘材料电阻率测试仪*符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。